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世界初、中性子が引き起こす半導体ソフトエラー特性の全貌を解明 〜全電子機器に起こりうる、宇宙線起因の誤動作対策による安全な社会インフラの構築〜
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Source :
NTT
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日本電信電話株式会社、および国立大学法人北海道大学は共同で、中性子のもつエネルギーごとの半導体ソフトエラー発生率を今までは測定がされていなかった10 meV〜1 MeVの低エネルギー領域において、"連続的な"データとして実測することに成功し、その全貌を世界で初めて明らかにしました。
2023年3月16日
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