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世界初、陽子と中性子による半導体の障害発生率の同一性を実証
〜宇宙環境における障害評価を中性子試験のみで実現、太陽フレア等の備えを効率化〜
Source : NTT
NTT株式会社と国立大学法人北海道大学は、世界で初めて、宇宙放射線「陽子」と大気中「中性子」による半導体の誤動作(ソフトエラー)の発生率が、宇宙空間で80%以上を占める20メガ電子ボルト(MeV)以上の運動エネルギー帯においては同等であることを実証しました。
2026年2月27日

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